存儲芯片測試設備_NOR_NAND測試器_閃存測試儀_CP測試

語言

IC Programming equipment · IC Programming equipment

測試設備

ICT-192 NOR/NAND測試器

描述

ICT-192是專爲NOR/NAND Flash存儲芯片設計的高性能、高精度測試解決方案。它集成了全面的Logic、PMU、VPP、VCC及HT測試功能，提供從研發驗證到量産測試的全流程支持，以卓越的測試精度與靈活性，保障存儲芯片的品質與可靠性。

關鍵亮點

全面測試能力：壹台設備集成邏輯測試、參數測量單元(PMU)、編程電壓(VPP)、核心電壓(VCC)及高低溫(HT)測試，滿足存儲芯片全參數測試需求。

超高測試精度：電壓分辨率達0.3mV級，電流分辨率達nA級，確保微小電氣缺陷的精准捕捉與參數微調(Trim)。

強大通道配置：最高支持192個數字通道及多組獨立精密模擬通道，滿足多芯片並行測試與複雜接口需求，提升測試效率。

深度功能與耐久測試：支持用戶模式與測試模式下的功能驗證，並提供循環測試(Cycle Test)功能，評估芯片耐久性與長期可靠性。

開放的編程環境：支持ITE編程環境，允許客戶自主開發或導入測試程序，並提供客制化數據報表，靈活適配不同生産與數據分析流程。

IC測試集成開發與數據分析平台 (基于ITE環境)

基于ITE的開放式編程環境：提供基于行業標准 ITE (Integrated Test Environment) 的開放式開發平台，允許用戶根據芯片特性，靈活開發、調試並導入自定義的測試算法與複雜流程，實現深度、精准的測試覆蓋。
高效的測試程序開發與調試工具：集成強大的代碼編輯器、編譯器及實時調試器。提供波形顯示、內存查看、變量監控等高級功能，幫助測試工程師快速開發測試程序並定位問題，顯著縮短測試方案開發周期。
智能化的量産測試管理：軟件提供直觀的圖形化量産界面，支持多站點並行測試管理、批次控制、實時監控良率與測試進度。可靈活設定分Bin規則，並壹鍵生成客制化的測試報表與統計數據。
全面的數據分析與SPC監控：內置強大的數據分析引擎，可對海量測試數據進行統計分析，自動生成直方圖、趨勢圖、Shmoo圖等。集成實時SPC（統計過程控制）功能，監控關鍵參數波動，實現預防性質量管理。
靈活的自動化與系統集成：支持通過標准通訊接口（如GPIB、Ethernet）與探針台、分選機、溫控設備等外圍硬件聯動，構建自動化測試站。同時，可輕松對接工廠MES系統，實現測試數據上傳與生産指令下發。

産品規格

核心硬件測試規格
測試模塊	通道數	電壓範圍	電壓分辨率(Force/Measure)	電流範圍	電流分辨率(Force/Measure)	其他
Logic測試	128 (Max 192)	0 ~ 4V	0.305 mV	-	-	頻率: 133MHz
PMU測試	16	-1.5V ~ +4V	0.343mV / 0.381mV	±5uA ~ ±10mA	0.172nA~343nA / 0.170nA~339nA	模式: FV/MV/FI/MI/FN
VPP測試	16	-1.5V ~ +12V	0.343mV / 0.381mV	15uA ~ +80mA	0.172nA~2.77uA / 0.170nA~2.73uA	模式: FV/MV/FI/MI/FN
VCC測試	16	-1.5V ~ +5V	0.343mV / 0.381mV	15uA ~ +298mA	0.172nA~10.2uA / 0.170nA~10.1uA	模式: FV/MV/FI/MI/FN

HT測試與高級功能
功能類別	描述
DC測試	支持Open/Short/Leakage/Standby Current等直流參數測試。
功能測試	支持User Mode（用戶模式）與Test Mode（通過HV pin進入）下的芯片功能驗證。
微調(Trim)	支持對電流(Current)、電壓(Voltage)參數進行微調，確保測試精度。
數據記錄	可記錄編程/擦除時間(pgm/erase polling time)、電流、電壓等過程數據(Log data)。
循環測試	支持按次數或時間設定的耐久性循環測試(Cycle test)。
報表與編程	提供客制化格式報表，並支持ITE編程環境，供客戶自行開發測試程序。